J 2005

Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique

FRANTA, Daniel, Beatrice NEGULESCU, Luc THOMAS, Pierre Richard DAHOO, Marcel GUYOT et. al.

Základní údaje

Originální název

Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique

Název česky

Optické vlastnosti tekých NiO vrstev připravených pomocí pulzní laserové depoziční metody

Autoři

FRANTA, Daniel (203 Česká republika, garant), Beatrice NEGULESCU (642 Rumunsko), Luc THOMAS (250 Francie), Pierre Richard DAHOO (250 Francie), Marcel GUYOT (250 Francie), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika), Jan MISTRÍK (203 Česká republika) a Tomuo YAMAGUCHI (392 Japonsko)

Vydání

Applied Surface Science, USA, ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2005, 0169-4332

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

Impakt faktor

Impact factor: 1.263

Kód RIV

RIV/00216224:14310/05:00014765

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000228600200098

Klíčová slova anglicky

NiO films; Optical constants; Ellipsometry; Reflectometry
Změněno: 3. 2. 2006 17:45, Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

Anotace

V originále

In this paper the optical characterization of the NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique onto the quartz substrate were performed using multi-sample modification of the combined optical method based on measuring and interpreting the experimental data obtained by variable angle spectroscopic ellipsometry and spectrophotometry in reflected and transmitted light. A new dispersion model of the optical constants of the NiO films was also used. This dispersion model was based on parameterizing of the joint density of states together with the Gaussian broadening. The defects consiting in boundary roughness and refractive index profile were taken into account in optical characterization of the NiO films too. The spectral dependences of the optical constants together with the parameters characterizing the defects of these films were determined.

Česky

V tomto článku optická charakterizace vrstev NiO připravených pulsní lasrovou deposicí na podložky z taveného křemene byla provedena pomocí vícevzorkové modifikace kombinované optické metody založené na měření a interpretaci experimentálních dat obdržených víceúhlovou spektroskopickou elipsometrií a spektrofotometrií v odraženém a propuštěném světle. Nový dispersní model optických konstant NiO vrstev byl použit. Tento dispersní model je založen na parametrizaci sdružené hustoty elektronových stavů spolu s Gaussovským rozšířením. Defekty spočívající v drsnosti rozhraní a profilu indexu lomu byly rovněž brány v úvahu při optické charakterizaci NiO vrstev. Byly určeny spektrální závislosti optických konstant spolu s parametry charakterizujícími defekty těchto vrstev byly.

Návaznosti

MSM 143100003, záměr
Název: Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek