2005
Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique
FRANTA, Daniel, Beatrice NEGULESCU, Luc THOMAS, Pierre Richard DAHOO, Marcel GUYOT et. al.Základní údaje
Originální název
Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique
Název česky
Optické vlastnosti tekých NiO vrstev připravených pomocí pulzní laserové depoziční metody
Autoři
FRANTA, Daniel (203 Česká republika, garant), Beatrice NEGULESCU (642 Rumunsko), Luc THOMAS (250 Francie), Pierre Richard DAHOO (250 Francie), Marcel GUYOT (250 Francie), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika), Jan MISTRÍK (203 Česká republika) a Tomuo YAMAGUCHI (392 Japonsko)
Vydání
Applied Surface Science, USA, ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2005, 0169-4332
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Spojené státy
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 1.263
Kód RIV
RIV/00216224:14310/05:00014765
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000228600200098
Klíčová slova anglicky
NiO films; Optical constants; Ellipsometry; Reflectometry
Štítky
Změněno: 3. 2. 2006 17:45, Mgr. Daniel Franta, Ph.D.
V originále
In this paper the optical characterization of the NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique onto the quartz substrate were performed using multi-sample modification of the combined optical method based on measuring and interpreting the experimental data obtained by variable angle spectroscopic ellipsometry and spectrophotometry in reflected and transmitted light. A new dispersion model of the optical constants of the NiO films was also used. This dispersion model was based on parameterizing of the joint density of states together with the Gaussian broadening. The defects consiting in boundary roughness and refractive index profile were taken into account in optical characterization of the NiO films too. The spectral dependences of the optical constants together with the parameters characterizing the defects of these films were determined.
Česky
V tomto článku optická charakterizace vrstev NiO připravených pulsní lasrovou deposicí na podložky z taveného křemene byla provedena pomocí vícevzorkové modifikace kombinované optické metody založené na měření a interpretaci experimentálních dat obdržených víceúhlovou spektroskopickou elipsometrií a spektrofotometrií v odraženém a propuštěném světle. Nový dispersní model optických konstant NiO vrstev byl použit. Tento dispersní model je založen na parametrizaci sdružené hustoty elektronových stavů spolu s Gaussovským rozšířením. Defekty spočívající v drsnosti rozhraní a profilu indexu lomu byly rovněž brány v úvahu při optické charakterizaci NiO vrstev. Byly určeny spektrální závislosti optických konstant spolu s parametry charakterizujícími defekty těchto vrstev byly.
Návaznosti
MSM 143100003, záměr |
|