MISTRÍK, Jan, Tomuo YAMAGUCHI, Daniel FRANTA, Ivan OHLÍDAL, Gu Jin HU a Ning DAI. Optical properties of slightly rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry. Applied Surface Science. USA: ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2005, roč. 244, 1-4, s. 431-434. ISSN 0169-4332.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Optical properties of slightly rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry
Název česky Optické vlastnosti jemně drsných tenkých vrstev LaNiO3 studovaných spektroskopickou elipsometrií a reflektometrií
Autoři MISTRÍK, Jan (203 Česká republika), Tomuo YAMAGUCHI (392 Japonsko), Daniel FRANTA (203 Česká republika, garant), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika), Gu Jin HU (156 Čína) a Ning DAI (156 Čína).
Vydání Applied Surface Science, USA, ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2005, 0169-4332.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 1.263
Kód RIV RIV/00216224:14310/05:00014774
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000228600200099
Klíčová slova anglicky Ellipsometry; Reflectometry; Optical constants; LNO; LaNiO3
Štítky ellipsometry, LaNiO3, LNO, optical constants, Reflectometry
Změnil Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 3. 2. 2006 17:48.
Anotace
Optical characterization of sol-gel deposited lanthanum nickel oxide, LaNiO3 (LNO) film on Pt-coated Si substrate was performed by spectroscopic ellipsometry and reflectometry. The sum of five Lorentz oscillators was used for LNO dispersion parameterization in spectral range from 190 to 1000 nm. Two theoretical approaches: Raileigh-Rice theory (RRT) and effective medium approximation (EMA) were considered to account for the effect of LNO upper boundary roughness. Root mean square (rms) values of the heights of irregularities obtained by atomic force microscopy (AFM) and RRT were 2.09 and 5.62 nm, respectively. Effective layer thickness in EMA approach was found to be 4.62 nm. Higher values of roughness determined from optical methods with respect to the AFM may be assigned to the effect of convolution of AFM tip and boundary irregularities.
Anotace česky
Optická charakterizace vrstev LaNiO3 (LNO) deponovaných sol-gel metodou na podložky Si pokryté Pt byla provedena pomocí spektroskopické elipsometrie a reflektometrie. Součet pěti Lorentzových oscilátorů byl užit pro dispersní parametrizaci LNO ve spektrálním oboru 190-1000 nm. Dva teoretic képřístupy: Rayleigh-Riceova teorie (RRT) a aproximace efektivního prostředí (EMA) byly uvažovány při započtení vlivu drsnosti rozhraní. RMS hodnoty výšek nepravidelností obdržené pomocí mikroskopie atomové síly (AFM) a RRT byly 2.09 a 5.62 nm. Tloušťka efektivní vrstvy v rámci přístupu EMA byla zjištěna v hodnotě 4.62 nm. Vyšší hodnoty drsnosti určené pomocí optické metody vzhledem k AFM mohou být vysvětleny efektem konvoluce hrotu AFM a nepravidelností rozhraní.
Návaznosti
MSM 143100003, záměrNázev: Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
VytisknoutZobrazeno: 3. 8. 2024 10:17