Detailed Information on Publication Record
2005
Mechanical properties of amorphous and nanocrystalline silicon thin films on flexible substrates
BURŠÍKOVÁ, Vilma, Petr SLÁDEK and Pavel SŤAHELBasic information
Original name
Mechanical properties of amorphous and nanocrystalline silicon thin films on flexible substrates
Name in Czech
Mechanické vlastnosti amorfních a nanokrystalických tenkých vrstev křemíku na flexibilních substrátech
Authors
BURŠÍKOVÁ, Vilma (203 Czech Republic), Petr SLÁDEK (203 Czech Republic, guarantor) and Pavel SŤAHEL (203 Czech Republic)
Edition
1. vyd. Brno, NENAMAT International Conference Proceedings NANO05, p. 396-399, 4 pp. 2005
Publisher
Brno University of Technology, Faculty of Mechanical Engineering
Other information
Language
English
Type of outcome
Stať ve sborníku
Field of Study
10302 Condensed matter physics
Country of publisher
Czech Republic
Confidentiality degree
není předmětem státního či obchodního tajemství
RIV identification code
RIV/00216224:14410/05:00014838
Organization unit
Faculty of Education
ISBN
80-214-3085-0
Keywords in English
Mechanical properties; Amorphous silicon; Nanocrystalline Silicon
Změněno: 7/2/2006 12:33, doc. RNDr. Petr Sládek, CSc.
V originále
The objective of our study was to investigate the mechanical properties of amorphous and nanocrystalline silicon thin layer deposited on flexible sustrates by means of depth sensing intendation method.
In Czech
DSI technika je jedna z nejvhodnějších metod pro sledování mechanických vlastností tenkých vrstev. Byla použita pro studioum tenkých vrstev amorfního a nanokrystalického křemíku deponovaného na flexibilních substrátech.
Links
| MSM0021622411, plan (intention) |
|