2005
Application of the wavelet transformation in AFM data analysis
KLAPETEK, Petr a Ivan OHLÍDALZákladní údaje
Originální název
Application of the wavelet transformation in AFM data analysis
Název česky
Aplikace waveletové transformace při
analýze AFM dat
Autoři
KLAPETEK, Petr (203 Česká republika) a Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika, garant)
Vydání
Acta Physica Slovaca, Bratislava, Institute of Physics, SAS, 2005, 0323-0465
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Slovensko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 0.359
Kód RIV
RIV/00216224:14310/05:00013548
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky
AFM; Wavelet transform
Štítky
Změněno: 28. 2. 2006 18:33, prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
V originále
In this article the possibilities of the wavelet transform use within atomic force microscopy data processing are presented. Both discrete and continuous wavelet transform is used for different processing and analytical purposes including denoising, AFM scan error detection, background removal and multifractal analysis. It is shown that the use of wavelet transform can be very effective within AFM data analysis, namely for highly irregular data.
Česky
V tomto článku jsou presentovány možnosti využití waveletové transformace při analýze AFM dat. Pro analytické účely jsou použity obě transformace, tj. diskrétní i spojitá waveletová transformace, spolu s s procesem pro odstranění šumu, detekce chyb, odstranění pozadí a vícefraktálové analýz. Je ukázáno, že užití waveletové transformace může být v rámci AFM analýzy efektivní a to zvláště pro velmi nepravidelná data.
Návaznosti
| FT-TA/094, projekt VaV |
| ||
| MSM 143100003, záměr |
|