2006
IN-SITU INVESTIGATIONS OF SI AND GE INTERDIFFUSION IN SIGE MULTILAYERS AND CASCADE STRUCTURES
MEDUŇA, Mojmír, Jiří NOVÁK, Václav HOLÝ, Günther BAUER, Claudiu FALUB et. al.Základní údaje
Originální název
IN-SITU INVESTIGATIONS OF SI AND GE INTERDIFFUSION IN SIGE MULTILAYERS AND CASCADE STRUCTURES
Název česky
In-situ studie Si a Ge interdifuse v SiGe multivrstvách a kaskádových strukturách
Autoři
MEDUŇA, Mojmír (203 Česká republika, garant), Jiří NOVÁK (203 Česká republika), Václav HOLÝ (203 Česká republika), Günther BAUER (40 Rakousko), Claudiu FALUB (642 Rumunsko), Soichiro TSUJINO (392 Japonsko) a Detlev GRÜTZMACHER (276 Německo)
Vydání
Karlsruhe, XTOP 2006 - 8th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging, s. 124-124, 2006
Nakladatel
Forchungszentrum Karlsruhe
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Stať ve sborníku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Německo
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV
RIV/00216224:14310/06:00016350
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky
interdiffusion; x-ray diffraction; thin films
Štítky
Příznaky
Mezinárodní význam
Změněno: 24. 1. 2007 13:09, Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.
V originále
We have performed in-situ x-ray reflectivity and diffraction measurements in the range around 700 C. The Ge content profile in SiGe multilayers was used for simulating the x-ray reflectivity or diffraction spectra.
Česky
Provedli jsme in-situ měření rtg reflektivity a difrakce v oblasti teplot 700 C. Profil obsahu Ge v SiGe multivrstvách byl použit pro simulacespekter rtg reflexe a difrakce.
Návaznosti
| GP202/05/P286, projekt VaV |
| ||
| MSM0021622410, záměr |
|