BRZOBOHATÝ, Oto, Vilma BURŠÍKOVÁ, David NEČAS, Miroslav VALTR a David TRUNEC. Influence of substrate material on plasma indeposition/sputtering reactor: experiment and computer simulation. Journal of Physics D: Applied Physics. Bristol, England: IOP Publishing Ltd., 2008, roč. 41, č. 035213, s. 1-8. ISSN 0022-3727.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Influence of substrate material on plasma indeposition/sputtering reactor: experiment and computer simulation
Název česky Vliv vzorku na plazma v depozičním/odprašovacím reaktoru: experiment a počítačová simulace
Autoři BRZOBOHATÝ, Oto (203 Česká republika, garant), Vilma BURŠÍKOVÁ (203 Česká republika), David NEČAS (203 Česká republika), Miroslav VALTR (203 Česká republika) a David TRUNEC (203 Česká republika).
Vydání Journal of Physics D: Applied Physics, Bristol, England, IOP Publishing Ltd. 2008, 0022-3727.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 2.104
Kód RIV RIV/00216224:14310/08:00024731
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000253177300023
Klíčová slova anglicky r.f. plasma; computer simulation; secondary electron emision; plasma deposition; plasma sputtering
Štítky computer simulation, plasma deposition, plasma sputtering, r.f. plasma, secondary electron emision
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnila: doc. RNDr. Vilma Buršíková, Ph.D., učo 2418. Změněno: 1. 7. 2009 09:08.
Anotace
The aim of the present work was to investigate the influence of the substrate material on the plasma enhanced chemical vapor deposition and the plasma sputtering of thin films in low pressure parallel-plate r.f. discharges. It was observed that the deposition or sputtering rates differed above different materials, e.g., above a substrate and substrate electrode. Moreover, the substrates placed on the bottom r.f. electrode seemed to be mirrored in the thickness of a thin film deposited or sputtered on the upper grounded electrode. The influence of the substrate material on the plasma parameters was studied via Particle In Cell/Monte Carlo computer simulation. According to our finding the mirroring of the substrate was caused by different secondary electron emission yields of the substrate material and material of the substrate electrode.
Anotace česky
Cílem této práce bylo zkoumání vlivu materiálu substrátu na vysokofrekvenční plazma v planparalelním reaktoru určeného pro depozici a odprašovaní tenkých vrstev za nízkých tlaků. Experimentálně bylo pozorováno, že depoziční a odprašovací rychlost je jiná nad substrátem a nad elektrodou. Navíc substrát umístěný nad buzenou elektrodou se zrcadlí v tloušťce deponované popř. odprašované tenké vrstvy přítomné na protější zemněné elektrodě. Proto byl pomocí počítačových modelu, založeného na metodě Particle In Cell/Monte Carlo, studován vliv materiálu substrátu na parametry plazmatu. Ukázali jsme, že toto zrcadlení je způsobeno rozdílem koeficientu sekundární emise substrátu a elektrody. Tento rozdíl totiž ovlivní lokálně hustotu plazmatu, a tedy i depoziční a odprašovací rychlost.
Návaznosti
GA202/06/0776, projekt VaVNázev: Pokročilý výzkum a vývoj zdrojů nízkoteplotního plazmatu
Investor: Grantová agentura ČR, Pokročilý výzkum a vývoj zdrojů nízkoteplotního plazmatu
GA202/07/1669, projekt VaVNázev: Depozice termomechanicky stabilních nanostrukturovaných diamantu-podobných tenkých vrstev ve dvojfrekvenčních kapacitních výbojích
Investor: Grantová agentura ČR, Depozice termomechanicky stabilních nanostrukturovaných diamantu-podobných tenkých vrstev ve dvojfrekvenčních kapacitních výbojích
MSM0021622411, záměrNázev: Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
VytisknoutZobrazeno: 8. 6. 2024 11:47