2008
Near-field scanning optical microscope probe analysis
KLAPETEK, Petr, Jiří BURŠÍK, Miroslav VALTR a Jan MARTÍNEKZákladní údaje
Originální název
Near-field scanning optical microscope probe analysis
Název česky
Analýza sondy mikroskopu blízkého pole
Autoři
KLAPETEK, Petr (203 Česká republika, garant), Jiří BURŠÍK (203 Česká republika), Miroslav VALTR (203 Česká republika, domácí) a Jan MARTÍNEK (203 Česká republika)
Vydání
Ultramicroscopy, Amsterdam, Elsevier, 2008, 0304-3991
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10306 Optics
Stát vydavatele
Česká republika
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 2.629
Kód RIV
RIV/00216224:14310/08:00050714
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000257151700009
Klíčová slova anglicky
NSOM;Artifacts
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 20. 4. 2012 09:19, Ing. Andrea Mikešková
V originále
In this article results of a comparison of two NSOM probe characterization methods are presented. Scanning electron microscopy analysis combined with electromagnetic field modeling using the finite difference in time domain method are compared with measured far-field radiation diagrams of NSOM probes. It is shown that measurement of far-field radiation diagrams can be an efficient tool for daily checking of the NSOM probes quality. Moreover, it is shown that the inner probe geometry has large influence on the directional radiation of an NSOM probe and the far-field radiation diagram can be used as a simple method to distinguish between different probe geometries.
Česky
V tomto článku je prezentováno srovnání dvou metod na charakterizaci NSOM sond. Analýza pomocí řádkovacího elektronového mikroskopu zkombinovaná s modelováním elektromagnetického pole metodou FDTD je porovnávána s vyzařovacími diagramy NSOM sond ve vzdáleném poli. Je ukázáno, že měření těchto diagramů může být efektivním nástrojem pro každodenní kontrolu kvality NSOM sond. Navíc je ukázáno, že vnitřní geometrie sondy má velký vliv na směrové vyzařování sondy a že vyzařovací diagram ve vzdáleném poli může být použit jako jednoduchá metoda pro rozlišení mezi různými geometriemi sond.
Návaznosti
| FT-TA3/142, projekt VaV |
|