KLAPETEK, Petr, Miroslav VALTR, Aleš PORUBA, David NEČAS a Miloslav OHLÍDAL. Rough surface scattering simulations using graphics cards. Applied Surface Science. USA: ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2010, roč. 2010, č. 256, s. 5640-5643. ISSN 0169-4332.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Rough surface scattering simulations using graphics cards
Název česky Simulace rozptylu na drsném povrchu pomocí grafických karet
Autoři KLAPETEK, Petr (203 Česká republika, garant), Miroslav VALTR (203 Česká republika), Aleš PORUBA (203 Česká republika), David NEČAS (203 Česká republika) a Miloslav OHLÍDAL (203 Česká republika).
Vydání Applied Surface Science, USA, ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2010, 0169-4332.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10306 Optics
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 1.795
Kód RIV RIV/00216224:14310/10:00040192
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000278037200011
Klíčová slova anglicky FDTD;graphics processing unit
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D., učo 13715. Změněno: 21. 7. 2010 09:53.
Anotace
In this article we present results of rough surface scattering calculations using a graphical processing unit implementation of the Finite Difference in Time Domain algorithm. Numerical results are compared to real measurements and computational performance is compared to computer processor implementation of the same algorithm. As a basis for computations, atomic force microscope measurements of surface morphology are used. It is shown that the graphical processing unit capabilities can be used to speedup presented computationally demanding algorithms without loss of precision.
Návaznosti
FT-TA3/142, projekt VaVNázev: Analýza optických vlastností solárních článků.
Investor: Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR, Analýza optických vlastností solárních článků
KAN311610701, projekt VaVNázev: Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie
Investor: Akademie věd ČR, Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie
VytisknoutZobrazeno: 9. 10. 2024 02:21