J 2010

Rough surface scattering simulations using graphics cards

KLAPETEK, Petr, Miroslav VALTR, Aleš PORUBA, David NEČAS, Miloslav OHLÍDAL et. al.

Základní údaje

Originální název

Rough surface scattering simulations using graphics cards

Název česky

Simulace rozptylu na drsném povrchu pomocí grafických karet

Autoři

KLAPETEK, Petr (203 Česká republika, garant), Miroslav VALTR (203 Česká republika), Aleš PORUBA (203 Česká republika), David NEČAS (203 Česká republika) a Miloslav OHLÍDAL (203 Česká republika)

Vydání

Applied Surface Science, USA, ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2010, 0169-4332

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10306 Optics

Stát vydavatele

Česká republika

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 1.795

Kód RIV

RIV/00216224:14310/10:00040192

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000278037200011

Klíčová slova anglicky

FDTD;graphics processing unit

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 21. 7. 2010 09:53, Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D.

Anotace

V originále

In this article we present results of rough surface scattering calculations using a graphical processing unit implementation of the Finite Difference in Time Domain algorithm. Numerical results are compared to real measurements and computational performance is compared to computer processor implementation of the same algorithm. As a basis for computations, atomic force microscope measurements of surface morphology are used. It is shown that the graphical processing unit capabilities can be used to speedup presented computationally demanding algorithms without loss of precision.

Návaznosti

FT-TA3/142, projekt VaV
Název: Analýza optických vlastností solárních článků.
Investor: Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR, Analýza optických vlastností solárních článků
KAN311610701, projekt VaV
Název: Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie
Investor: Akademie věd ČR, Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie