2011
Dielectric response and structure of amorphous hydrogenated carbon films with nitrogen admixture
ZAJÍČKOVÁ, Lenka, Daniel FRANTA, David NEČAS, Vilma BURŠÍKOVÁ, Mihai George MURESAN et. al.Základní údaje
Originální název
Dielectric response and structure of amorphous hydrogenated carbon films with nitrogen admixture
Autoři
ZAJÍČKOVÁ, Lenka (203 Česká republika, garant, domácí), Daniel FRANTA (203 Česká republika, domácí), David NEČAS (203 Česká republika, domácí), Vilma BURŠÍKOVÁ (203 Česká republika, domácí), Mihai George MURESAN (642 Rumunsko, domácí), Vratislav PEŘINA (203 Česká republika, domácí) a Christoph COBET (276 Německo)
Vydání
Thin Solid Films, Elsevier, 2011, 0040-6090
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Nizozemské království
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 1.890
Kód RIV
RIV/00216224:14310/11:00049805
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000290187100030
Klíčová slova anglicky
Diamond-like carbon; Amorphous hydrogenated carbon; Optical properties; Band structure
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 27. 3. 2013 09:08, doc. Mgr. Lenka Zajíčková, Ph.D.
Anotace
V originále
The optical properties and structure of a-C:H films were modified by addition of nitrogen into the CH4/H2 deposition mixture. Three films prepared in capacitively coupled rf discharge were compared: (a) hydrogenated diamond like carbon film with hydrogen content of 34 % and indentation hardness of 21.7 GPa, (b) hard a-C:H:N film with nitrogen content of 13 % and indentation hardness of 18.5 GPa and (c) soft a-C:H:N film with nitrogen content of 10 % and indentation hardness of 6.7 GPa. It is shown how the parametrized density of states model describing dielectric response of electronic interband transitions can be applied to modified a-C:H:N and how it can be combined with correct treatment of transmittance measured in infrared range using additional Gaussian peaks in joint density of phonon states. This analysis resulted in determination of film dielectric function in wide spectral range (0.045-30 eV) and provided also information about the density of states of valence and conduction bands and lattice vibrations.
Návaznosti
FT-TA5/114, projekt VaV |
| ||
GA202/07/1669, projekt VaV |
| ||
GD104/09/H080, projekt VaV |
| ||
MSM0021622411, záměr |
|