2011
Characterization of ultrananocrystalline diamond thin films using low energy scanning electron microscopy
ŠPERKA, Jiří, Lenka ZAJÍČKOVÁ, Ondřej JAŠEK, Pavel DVOŘÁK, Šárka MIKMEKOVÁ et. al.Základní údaje
Originální název
Characterization of ultrananocrystalline diamond thin films using low energy scanning electron microscopy
Autoři
ŠPERKA, Jiří (203 Česká republika, domácí), Lenka ZAJÍČKOVÁ (203 Česká republika, garant, domácí), Ondřej JAŠEK (203 Česká republika, domácí), Pavel DVOŘÁK (203 Česká republika, domácí), Šárka MIKMEKOVÁ (203 Česká republika) a Jan SCHÄFER (203 Česká republika)
Vydání
Potential and Applications of Surface Nanotreatment of Polymers and Glass, 2011
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Konferenční abstrakt
Obor
10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele
Česká republika
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV
RIV/00216224:14310/11:00050070
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova česky
ultrananokrystalický diamant; nízkoenergiová rastrovací elektronová mikroskopie
Klíčová slova anglicky
ultrananocrystalline diamond;low energy scanning electron microscopy
Změněno: 19. 10. 2011 15:03, Mgr. Jiří Šperka, Ph.D.
Anotace
V originále
This paper deals with the low energy scanning electron microscopy characterization of ultrananocrystalline diamond films. These films were prepared by plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) using dual frequency discharge.
Návaznosti
GAP205/10/1374, projekt VaV |
| ||
MSM0021622411, záměr |
|