Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology

Přeskočit na horní lištu Přeskočit na hlavičku Přeskočit na obsah Přeskočit na patičku

Publikace Podrobný výpis o publikaci

Podrobný výpis o publikaci

J 2012

Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology

MÜLLEROVÁ, Ilona, Miloš HOVORKA, Filip MIKA, Eliška MIKMEKOVÁ, Šárka MIKMEKOVÁ et. al.

Základní údaje

Originální název

Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology

Autoři

MÜLLEROVÁ, Ilona, Miloš HOVORKA, Filip MIKA, Eliška MIKMEKOVÁ, Šárka MIKMEKOVÁ, Zuzana POKORNÁ a Luděk FRANK

Vydání

Int. J. Nanotechnol. Inderscience Enterprises Ltd. 2012

Další údaje

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

UT WoS

000303800500004

Štítky

cathode lens, grain contrast, graphene, scanning electron microscopy, strain contrast, very low energy electrons, very low energy STEM

Změněno: 16. 7. 2012 01:08, Mgr. Zuzana Pokorná, Ph.D.

MÜLLEROVÁ, Ilona, Miloš HOVORKA, Filip MIKA, Eliška MIKMEKOVÁ, Šárka MIKMEKOVÁ, Zuzana POKORNÁ a Luděk FRANK. Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology. Int. J. Nanotechnol. Inderscience Enterprises Ltd., 2012, roč. 9, 8/9, s. 695–716.

@article{986959,
   author = {Müllerová, Ilona and Hovorka, Miloš and Mika, Filip and Mikmeková, Eliška and Mikmeková, Šárka and Pokorná, Zuzana and Frank, Luděk},
   article_number = {8/9},
   journal = {Int. J. Nanotechnol.},
   title = {Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology},
   volume = {9},
   year = {2012}
}

TY  - JOUR
ID  - 986959
AU  - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
PY  - 2012
TI  - Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology
JF  - Int. J. Nanotechnol.
VL  - 9
IS  - 8/9
SP  - 695–716
EP  - 695–716
PB  - Inderscience Enterprises Ltd.
ER  -

MÜLLEROVÁ, Ilona, Miloš HOVORKA, Filip MIKA, Eliška MIKMEKOVÁ, Šárka MIKMEKOVÁ, Zuzana POKORNÁ a Luděk FRANK. Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology. \textit{Int. J. Nanotechnol.}. Inderscience Enterprises Ltd., 2012, roč.~9, 8/9, s.~695–716.