SLÁDEK, Petr,
Pavel SŤAHEL, Jiří ŠŤASTNÝ a Radek PŘIKRYL. MODIFICATIONS OF THE OPTICAL PARAMETERS OF THE SILICON THIN FILMS DUE TO THE LIGHT SCATTERING. In
Electronic Devices and Systems Y2K. první. Brno: ing. Zdeněk Novotný CSc., 2000, s. 202-206. ISBN 80-214-1780-3.