Masarykova univerzita

Výpis publikací

česky | in English

Filtrování publikací

    2000

    1. Analysis of Slightly Rough Thin Films by Optical Methods and AFM
      FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL a Petr KLAPETEK. Analysis of Slightly Rough Thin Films by Optical Methods and AFM. Mikrochim. Acta. Wien: Springer-Verlag, 2000, roč. 132, č. 1, s. 443-447. ISSN 0026-3672.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/313891/cs

    1998

    1. Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries
      FRANTA, Daniel a Ivan OHLÍDAL. Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries. Optics Communications. Amsterdam: Elsevier Science, 1998, roč. 147, č. 1, s. 349-358. ISSN 0030-4018.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/206015/cs
Zobrazit podrobně
Zobrazeno: 8. 6. 2024 18:07