Filtrování

    2004

    1. Complete Characterization of Rough Polymorphous Silicon Films by Atomic Force Microscopy and the Combined Method of Spectroscopic Ellipsometry and Spectroscopic Reflectometry
      FRANTA, Daniel; Ivan OHLÍDAL; Petr KLAPETEK a Pere ROCA I CABARROCAS. Complete Characterization of Rough Polymorphous Silicon Films by Atomic Force Microscopy and the Combined Method of Spectroscopic Ellipsometry and Spectroscopic Reflectometry. Thin Solid Films. Oxford, UK: Elsevier science, 2004, roč. 455-456, č. 1, s. 399-403. ISSN 0040-6090.
      URL
      Název česky: Úplná charakterizace drsných polymorfních křemíkových vrstev pomocí mikroskopie atomové síly a kombinované metody spektroskopické elipsometrie a spektroskopické reflektometrie
      RIV/00216224:14310/04:00010139 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Velká Británie a Severní Irsko.
      Franta, Daniel (203 Česká republika, garant) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Roca i Cabarrocas, Pere (250 Francie)
      Klíčová slova anglicky: Ellipsometry; Reflection; Optical properties; Polymorphous materials
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 3. 2. 2006 17:50.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/555840/cs