-
FRANTA, Daniel; Ivan OHLÍDAL; Miloslav FRUMAR a Jaroslav JEDELSKÝ. Optical Characterization of Chalcogenide Thin Films. Applied Surface Science. USA: ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2001, roč. 175-176, č. 1, s. 555-561. ISSN 0169-4332.Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/366091/cs