Filtrování

    2004

    1. Atomic Force Microscopy Analysis of Statistical Roughness of GaAs Surfaces Originated by Thermal Oxidation
      KLAPETEK, Petr; Ivan OHLÍDAL a Karel NAVRÁTIL. Atomic Force Microscopy Analysis of Statistical Roughness of GaAs Surfaces Originated by Thermal Oxidation. Microchimica Acta. Wien: Springer-Verlag, 2004, roč. 147, č. 3, s. 175-180. ISSN 0026-3672.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/562896/cs
Zobrazit podrobně