C8080 Analytická elektronová mikroskopie v materiálové chemii

Přírodovědecká fakulta
podzim 2016
Rozsah
2/0/0. 2 kr. (plus ukončení). Ukončení: zk.
Vyučující
RNDr. Jiří Buršík, DSc. (přednášející)
prof. Mgr. Tomáš Kruml, CSc. (přednášející)
Garance
RNDr. Jiří Buršík, DSc.
Ústav chemie - Chemická sekce - Přírodovědecká fakulta
Dodavatelské pracoviště: Ústav chemie - Chemická sekce - Přírodovědecká fakulta
Předpoklady
Fyzika, matematika a chemie na VŠ úrovni magisterského studia
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
Mateřské obory
Cíle předmětu
Studenti se seznámí s principy elektronové mikroskopie, jak transmisní, tak řádkovací. Budou probírány základy teorie zobrazení a difrakce v elektronovém mikroskopu. Pozornost bude věnována také analytickým metodám charakterizace materiálů objemových (slitiny, chemické sloučeniny) a práškových (nanočástice připravené různými chemickými metodami). Přednášky budou doplněny několika praktickými cvičeními u elektronových mikroskopů na pracovišti lektora.
Osnova
  • Interakce elektronů s pevnou látkou. Typy elektronových mikroskopů. TEM a SEM. Pracovní módy elektronových mikroskopů. Příprava vzorků pro EM. Teorie elektronové difrakce (rozptyl elektronů, elektronová difrakce krystalických a amorfních objektů, bodový a kruhový difraktogram, Braggova rovnice, Ewaldova konstrukce). Kinematická a dynamická teorie kontrastu. Kikuchiho linie. Praktické úlohy TEM. Vysokorozlišovací elektronová mikroskopie (HREM). Simulace obrazu v HREM. Pokročilejší metody elektronové difrakce: mikrodifrakce, difrakce v konvergentním svazku (CBED). Rastrovací elektronová mikroskopie (SEM). Analytická elektronová mikroskopie. Praktické ukázky – TEM, SEM+EDX+WDX+EBSD.
Literatura
    povinná literatura
  • KARLÍK, Miroslav. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie. Vyd. 1. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2011. 321 s. ISBN 9788001047293. info
    doporučená literatura
  • GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9. info
  • Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Edited by Ludwig Reimer. 3. ed. Berlin: Springer, 1993. 545 s. ISBN 3540568492. info
Výukové metody
přednášky, 2-3 praktické lekce
Metody hodnocení
zkouška
Informace učitele
výuka i praktická cvičení probíhají na Ústavu fyziky materiálů AVČR, Žižkova 22, Brno
Předmět je zařazen také v obdobích podzim 2015.
  • Statistika zápisu (nejnovější)
  • Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/podzim2016/C8080

Nahoru | Aktuální datum a čas: 25. 9. 2017 13:40, 39. (lichý) týden

Kontakty: istech(zavináč/atsign)fi(tečka/dot)muni(tečka/dot)cz, studijní odd., správci práv, is-technici, e-technici, IT podpora | Použití cookies | Více o Informačním systému