2012
Oxidation of Silicon Surface by DCSBD
SKÁCELOVÁ, Dana; Martin HANIČINEC; Pavel SŤAHEL a Mirko ČERNÁKZákladní údaje
Originální název
Oxidation of Silicon Surface by DCSBD
Autoři
Vydání
Ostrava, NANOCON 2012, 4th INTERNATIONAL CONFERENCE, od s. 778-781, 4 s. 2012
Nakladatel
TANGER Ltd.
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Stať ve sborníku
Obor
10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele
Česká republika
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Forma vydání
elektronická verze "online"
Odkazy
Označené pro přenos do RIV
Ano
Kód RIV
RIV/00216224:14310/12:00064653
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
ISBN
978-80-87294-32-1
UT WoS
Klíčová slova anglicky
Coplanar DBD; silicon dioxide; oxidation; atmospheric pressure plasma
Změněno: 5. 4. 2013 14:35, Ing. Andrea Mikešková
Anotace
V originále
In the present work plasma oxidation of crystalline silicon (c-Si) surface in diffuse coplanar surface barrier discharge (DCSBD) generated at atmospheric pressure has been studied. Silicon surface has been oxidized in oxygen and argon plasma. The surface properties have been studied by means scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive X-ray (EDX) analyses. It was found that thin layer of amorphous silicon dioxide during the short treatment time was formed. Oxidation by DCSBD could represent new alternative of a low cost and fast oxidation process.
Návaznosti
| ED2.1.00/03.0086, projekt VaV |
|