Characterization of microstructures by analytical electron
microscopy (AEM)

Přeskočit na horní lištu Přeskočit na hlavičku Přeskočit na obsah Přeskočit na patičku

Publikace Přehled o publikaci

Přehled o publikaci

2012

Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)

RONG, Yonghua

Základní údaje

Originální název

Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)

Autoři

RONG, Yonghua

Vydání

Beijing, xviii, 552, 2012

Nakladatel

Higher Education Press

Další údaje

Označené pro přenos do RIV

ISBN

9787040300925

Změněno: 2. 3. 2026 06:57, Záznam byl importován z knihovního systému.

RONG, Yonghua. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM). Beijing: Higher Education Press, 2012, xviii, 552. ISBN 9787040300925.

@article{,
   author = {Rong, Yonghua},
   address = {Beijing},
   location = {Beijing},
   isbn = {9787040300925},
   publisher = {Higher Education Press},
   title = {Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)},
   year = {2012}
}

TY  - JOUR
AU  - Rong, Yonghua
PY  - 2012
TI  - Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
PB  - Higher Education Press
CY  - Beijing
SN  - 9787040300925
ER  -

RONG, Yonghua. \textit{Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)}. Beijing: Higher Education Press, 2012, xviii, 552. ISBN~9787040300925.