Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
RONG, Yonghua. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM). Beijing: Higher Education Press, 2012, xviii, 552. ISBN 9787040300925. |
Další formáty:
BibTeX
LaTeX
RIS
|
Základní údaje | |
---|---|
Originální název | Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM) |
Autoři | RONG, Yonghua. |
Vydání | Beijing, xviii, 552, 2012. |
Nakladatel | Higher Education Press |
Další údaje | |
---|---|
ISBN | 9787040300925 |
Změnil | Záznam byl importován z knihovního systému. Změněno: 8. 8. 2022 14:35. |
VytisknoutZobrazeno: 27. 4. 2024 21:51