Scanning electron microscopy : physics of image formation and
microanalysis

Přeskočit na horní lištu Přeskočit na hlavičku Přeskočit na obsah Přeskočit na patičku

Publikace Přehled o publikaci

Přehled o publikaci

1998

Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

REIMER, Ludwig

Základní údaje

Originální název

Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

Autoři

REIMER, Ludwig

Vydání

2nd ed. Berlin, xiv, 527, 1998

Nakladatel

Springer

Další údaje

Označené pro přenos do RIV

ISBN

3540639764

Změněno: 1. 6. 2026 06:53, Záznam byl importován z knihovního systému.

REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. 2nd ed. Berlin: Springer, 1998, xiv, 527. ISBN 3540639764.

@article{,
   author = {Reimer, Ludwig},
   address = {Berlin},
   edition = {2nd ed.},
   location = {Berlin},
   isbn = {3540639764},
   publisher = {Springer},
   title = {Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis},
   year = {1998}
}

TY  - JOUR
AU  - Reimer, Ludwig
PY  - 1998
TI  - Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis
PB  - Springer
CY  - Berlin
SN  - 3540639764
ER  -

REIMER, Ludwig. \textit{Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis}. 2nd ed. Berlin: Springer, 1998, xiv, 527. ISBN~3540639764.