Grazing-incidence in-plane X-ray diffraction on ultra-thin
organic films using standard laboratory equipment

Přeskočit na horní lištu Přeskočit na hlavičku Přeskočit na obsah Přeskočit na patičku

Publikace Přehled o publikaci

Přehled o publikaci

J 2012

Grazing-incidence in-plane X-ray diffraction on ultra-thin organic films using standard laboratory equipment

NEUSCHITZER, Markus; Armin MOSER; Alfred NEUHOLD; Johanna KRAXNER; Barbara STADLOBER et al.

Základní údaje

Originální název

Grazing-incidence in-plane X-ray diffraction on ultra-thin organic films using standard laboratory equipment

Autoři

NEUSCHITZER, Markus; Armin MOSER; Alfred NEUHOLD; Johanna KRAXNER; Barbara STADLOBER; Martin OEHZELT; Ingo SALZMANN; Roland RESEL a Jiří NOVÁK

Vydání

Journal of Applied Crystallography, MALDEN, WILEY-BLACKWELL, 2012, 0021-8898

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 3.343

Označené pro přenos do RIV

DOI

https://doi.org/10.1107/S0021889812000908

UT WoS

000302808300029

Změněno: 27. 9. 2013 11:27, Mgr. Jiří Novák, Ph.D.

NEUSCHITZER, Markus; Armin MOSER; Alfred NEUHOLD; Johanna KRAXNER; Barbara STADLOBER; Martin OEHZELT; Ingo SALZMANN; Roland RESEL a Jiří NOVÁK. Grazing-incidence in-plane X-ray diffraction on ultra-thin organic films using standard laboratory equipment. Journal of Applied Crystallography. MALDEN: WILEY-BLACKWELL, 2012, roč. 45, s. 367-370. ISSN 0021-8898. Dostupné z: https://doi.org/10.1107/S0021889812000908.

@article{1123343,
   author = {Neuschitzer, Markus and Moser, Armin and Neuhold, Alfred and Kraxner, Johanna and Stadlober, Barbara and Oehzelt, Martin and Salzmann, Ingo and Resel, Roland and Novák, Jiří},
   article_location = {MALDEN},
   doi = {https://doi.org/10.1107/S0021889812000908},
   language = {eng},
   issn = {0021-8898},
   journal = {Journal of Applied Crystallography},
   title = {Grazing-incidence in-plane X-ray diffraction on ultra-thin organic films using standard laboratory equipment},
   volume = {45},
   year = {2012}
}

TY  - JOUR
ID  - 1123343
AU  - Neuschitzer, Markus - Moser, Armin - Neuhold, Alfred - Kraxner, Johanna - Stadlober, Barbara - Oehzelt, Martin - Salzmann, Ingo - Resel, Roland - Novák, Jiří
PY  - 2012
TI  - Grazing-incidence in-plane X-ray diffraction on ultra-thin organic films using standard laboratory equipment
JF  - Journal of Applied Crystallography
VL  - 45
SP  - 367-370
EP  - 367-370
PB  - WILEY-BLACKWELL
SN  - 00218898
ER  -

NEUSCHITZER, Markus; Armin MOSER; Alfred NEUHOLD; Johanna KRAXNER; Barbara STADLOBER; Martin OEHZELT; Ingo SALZMANN; Roland RESEL a Jiří NOVÁK. Grazing-incidence in-plane X-ray diffraction on ultra-thin organic films using standard laboratory equipment. \textit{Journal of Applied Crystallography}. MALDEN: WILEY-BLACKWELL, 2012, roč.~45, s.~367-370. ISSN~0021-8898. Dostupné z: https://doi.org/10.1107/S0021889812000908.