J 2014

Analysis of island shape evolution from diffuse x-ray scattering of organic thin films and implications for growth

FRANK, C., R. BANERJEE, M. OETTEL, A. GERLACH, Jiří NOVÁK et. al.

Základní údaje

Originální název

Analysis of island shape evolution from diffuse x-ray scattering of organic thin films and implications for growth

Název česky

Analýza vývoje tvaru ostrůvků z Rentgenového difuzního rozptylu na organických tenkých filmech a důsledky pro růst

Autoři

FRANK, C. (276 Německo), R. BANERJEE (356 Indie), M. OETTEL (276 Německo), A. GERLACH (276 Německo), Jiří NOVÁK (203 Česká republika, garant, domácí), G. SANTORO (620 Portugalsko) a F. SCHREIBER (276 Německo)

Vydání

Physical Review B, College (USA), American Institute of Physics, 2014, 1098-0121

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 3.736

Kód RIV

RIV/00216224:14740/14:00077648

Organizační jednotka

Středoevropský technologický institut

UT WoS

000345171300007

Klíčová slova česky

růst tenkých vrstev; růst ostrůvků; organické polovodiče; diinedoperylen; maloúhlový rozptyl rentgenového záření při malém úhlu dopadu; teorie maloúhlového rozptylu

Klíčová slova anglicky

thin film growth; island formation; organic semiconductors; diindenoperylene; grazing incidence small angle x-ray scattering; small-angle scattering theory

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 12. 3. 2015 11:29, Martina Prášilová

Anotace

V originále

Understanding the growth of organic semiconducting molecules with shape anisotropy is of high relevance to the processing of optoelectronic devices. This work provides insight into the growth of thin films of the prototypical rodlike organic semiconductor diindenoperylene on a microscopic level by analyzing in detail the film morphology. We model our data, which were obtained by high-resolution grazing incidence small-angle x-ray scattering, using a theoretical description from small-angle scattering theory derived for simple liquids. Based on form-factor calculations for different object types, we determine how the island shapes change in the respective layers. Atomic force microscopy measurements approve our findings.

Česky

Porozumění růstu organických polovodičů s tvarovou anizotropií je důležité pro vývoj optoelektronických součástek. Tato práce přináší na mikroskopické úrovni vhled do růstu tenkých vrstev prototypického organického polovodiče protáhlého tvaru, diindenoperylenu, a to na základě detalní analýzy morfologie. Rentgenová data získaná z maloúhlového rozptylu při malém úhlu dopadu jsou analyzována s použitím teoretického popisu odvozeného z teorie maloúhlového rozptylu na jednoduchých kapalinách. Na základě výpočtů tvarového faktoru pro různé typy objektů jsem určili jak se mění tvar ostrůvků v jednotlivých molekulárních vrstvách. Mikroskopie atomových sil potvrzuje naše výsledky.

Návaznosti

ED1.1.00/02.0068, projekt VaV
Název: CEITEC - central european institute of technology