2015
Laser Desorption Ionisation Time-of-Flight Mass Spectrometry of Chalcogenide Glasses from (GeSe2)100-x(Sb2Se3)x System
ŠÚTOROVÁ, Katarína; Lubomír PROKEŠ; Virginie NAZABAL; Marek BOUŠKA; Josef HAVEL et. al.Základní údaje
Originální název
Laser Desorption Ionisation Time-of-Flight Mass Spectrometry of Chalcogenide Glasses from (GeSe2)100-x(Sb2Se3)x System
Autoři
ŠÚTOROVÁ, Katarína (703 Slovensko, domácí); Lubomír PROKEŠ (203 Česká republika, domácí); Virginie NAZABAL (250 Francie); Marek BOUŠKA (203 Česká republika); Josef HAVEL (203 Česká republika, domácí) a Petr NĚMEC (203 Česká republika, garant)
Vydání
JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY, BLACKWELL PUBLISHING, 2015, 0002-7820
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10406 Analytical chemistry
Stát vydavatele
Spojené státy
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 2.787
Kód RIV
RIV/00216224:14310/15:00081076
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000368076500075
EID Scopus
2-s2.0-84955421904
Klíčová slova anglicky
LDI TOFMS; chalcogenide glasses; structure; clusters; germanium; selenium; antimony
Štítky
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 14. 6. 2016 11:13, Mgr. Katarína Šútorová, Ph.D.
Anotace
V originále
Laser Desorption Ionization Time-of-Flight Mass Spectrometry (LDI TOFMS) was used to characterize chalcogenide glasses from pseudobinary (GeSe2)100-x(Sb2Se3)x system, where x = 5-60, aiming description of their partial structure through the analysis of the plasma formed due to interaction of pulsed laser beam with studied glasses. The plasma contains positively or negatively charged clusters; their stoichiometry was determined as Sec- (c = 2-3), Sb+, Se2+, and Sb3+; binary GeSec+, SbSec+/- (c = 1-2), SbbSec+ (b = 2-3, c = 1-4), GeaSb3+ (a = 1-4), Sb2Sec- (c = 3-4), SbSe3-, and Sb3Se5+; ternary GeSbSe2+, GeSbSec- (c = 3-5), GeSbbSe+ (b = 4-5), and Ge9Sb2Sec+ (c = 5-7) ones. Described method is generally useful not only for partial structural characterization of chalcogenide glasses and corresponding thin films but also for evaluation of their contamination with oxygen and/or hydrogen.
Návaznosti
| ED2.1.00/03.0086, projekt VaV |
| ||
| GA13-05082S, projekt VaV |
|