2016
Laser-Assisted Sample Introduction for Nanoparticle Characterization using ICP MS
PREISLER, Jan; Iva BENEŠOVÁ; Kristýna DLABKOVÁ; František ZELENÁK; Tomáš VACULOVIČ et. al.Základní údaje
Originální název
Laser-Assisted Sample Introduction for Nanoparticle Characterization using ICP MS
Název anglicky
Laser-Assisted Sample Introduction for Nanoparticle Characterization using ICP MS
Autoři
Vydání
21st International Mass Spectrometry conference, 2016
Další údaje
Jazyk
čeština
Typ výsledku
Konferenční abstrakt
Obor
10406 Analytical chemistry
Stát vydavatele
Česká republika
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky
SALD ICP MS; nanoparticle; laser; analysis; substrate-assisted laser desorption; plasma
Změněno: 19. 12. 2016 17:13, prof. Mgr. Jan Preisler, Ph.D.
V originále
A new method for nanoparticle introduction to inductively coupled plasma was presented.
Anglicky
A new method for nanoparticle introduction to inductively coupled plasma was presented.
Návaznosti
GA15-05387S, projekt VaV |
| ||
LQ1601, projekt VaV |
|