2017
Influence of C-60 co-deposition on the growth kinetics of diindenoperylene-From rapid roughening to layer-by-layer growth in blended organic films
LORCH, C., Jiří NOVÁK, R. BANERJEE, S. WEIMER, J. DIETERLE et. al.Základní údaje
Originální název
Influence of C-60 co-deposition on the growth kinetics of diindenoperylene-From rapid roughening to layer-by-layer growth in blended organic films
Autoři
LORCH, C. (276 Německo), Jiří NOVÁK (203 Česká republika, garant, domácí), R. BANERJEE (356 Indie), S. WEIMER (276 Německo), J. DIETERLE (276 Německo), C. FRANK (276 Německo), A. HINDERHOFER (276 Německo), A. GERLACH (276 Německo), F. CARLA (250 Francie) a F. SCHREIBER (276 Německo)
Vydání
Journal of Chemical Physics, MELVILLE, American Institute of Physics, 2017, 0021-9606
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Spojené státy
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 2.843
Kód RIV
RIV/00216224:14310/17:00096489
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000394576600009
Klíčová slova anglicky
thin film growth; organic semiconductors; crystallinity; temperature dependence; blends; mixing; diindenoperylene; buckminsterfullerene; x-ray scattering
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 16. 12. 2019 14:36, Mgr. Marie Šípková, DiS.
Anotace
V originále
We investigated the growth of the two phase-separating materials diindenoperylene (DIP) and buckminsterfullerene C-60 with different mixing ratio in real-time and in situ by X-ray scattering experiments. We found that at room temperature, mixtures with an excess of DIP show a growth mode which is very close to the perfect layer-by-layer limit with DIP crystallites forming over the entire film thickness. An unexpected increase in the island size is observed for these mixtures as a function of film thickness. On the other hand, equimolar and C-60 dominated mixtures grow with poor crystallinity but form very smooth films. Additionally, it is observed that higher substrate temperatures lead to an increase in the length scale of phase separation with film thickness.
Návaznosti
LQ1601, projekt VaV |
| ||
7AMB16DE006, projekt VaV |
|