2017
Growth, Structure, and Anisotropic Optical Properties of Difluoro-anthradithiophene Thin Films
STORZER, Timo; Alexander HINDERHOFER; Clemens ZEISER; Jiří NOVÁK; Zbyněk FIŠER et al.Základní údaje
Originální název
Growth, Structure, and Anisotropic Optical Properties of Difluoro-anthradithiophene Thin Films
Autoři
STORZER, Timo; Alexander HINDERHOFER; Clemens ZEISER; Jiří NOVÁK; Zbyněk FIŠER; Valentina BELOVA; Berthold REISZ; Santanu MAITI; Giuliano DUVA; Rawad K. HALLANI; Alexander GERLACH; John E. ANTHONY a Frank SCHREIBER
Vydání
Journal of Physical Chemistry C, Washington D.C. American Chemical Soc, 2017, 1932-7447
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Spojené státy
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 4.484
Označené pro přenos do RIV
Ano
Kód RIV
RIV/00216224:14310/17:00098473
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
EID Scopus
Klíčová slova anglicky
organic semiconductors; structural properties; optical properties; thin films; x-ray diffraction;
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 11. 9. 2018 11:36, Mgr. Jiří Novák, Ph.D.
Anotace
V originále
Anthradithiophene (ADT) and its functionalized derivatives have proven to be attractive for high-performance electronic devices based on small-molecule organic semiconductors. In this manuscript we investigate the structural and optical properties of thin films of difluoro-anthradithiophene (diF-ADT), an ADT derivative, grown by organic molecular beam deposition (OMBD). By grazing incidence X-ray diffraction and reciprocal space maps, we show that diF-ADT crystallizes in a thin film structure similar to the single crystal unit cell. In addition, we investigate the growth characteristics with atomic force microscopy (AFM) and show an increase of surface mound sizes with elevated substrate temperature. Optical absorption measurements reveal a clear vibronic progression in both solution and thin film spectra along with a distinct optical anisotropy related to the molecular orientation in thin films.
Návaznosti
| LM2015041, projekt VaV |
| ||
| LQ1601, projekt VaV |
| ||
| 7AMB16DE006, projekt VaV |
|