Optical characterization of thin solid films

Přeskočit na horní lištu Přeskočit na hlavičku Přeskočit na obsah Přeskočit na patičku

Publikace Přehled o publikaci

Přehled o publikaci

2018

Optical characterization of thin solid films

Základní údaje

Originální název

Optical characterization of thin solid films

Autoři

Edited by Olaf Stenzel - Miloslav Ohlídal.

Vydání

New York, NY, xxiv, 462, 2018

Nakladatel

Springer

Další údaje

Označené pro přenos do RIV

ISBN

9783319753249

Změněno: 2. 3. 2026 07:28, Záznam byl importován z knihovního systému.

Optical characterization of thin solid films. Edited by Olaf Stenzel - Miloslav Ohlídal. New York, NY: Springer, 2018, xxiv, 462. ISBN 9783319753249.

@article{,
   address = {New York, NY},
   location = {New York, NY},
   isbn = {9783319753249},
   publisher = {Springer},
   title = {Optical characterization of thin solid films},
   year = {2018}
}

TY  - JOUR
PY  - 2018
TI  - Optical characterization of thin solid films
PB  - Springer
CY  - New York, NY
SN  - 9783319753249
ER  -

\textit{Optical characterization of thin solid films}. Edited by Olaf Stenzel - Miloslav Ohlídal. New York, NY: Springer, 2018, xxiv, 462. ISBN~9783319753249.