2018
Structural and Optical Properties of Luminescent Copper (I) Chloride Thin Films Deposited by Sequentially Pulsed Chemical Vapour Deposition
KRUMPOLEC, Richard, Tomáš HOMOLA, David Campbell CAMERON, Josef HUMLÍČEK, Ondřej CAHA et. al.Základní údaje
Originální název
Structural and Optical Properties of Luminescent Copper (I) Chloride Thin Films Deposited by Sequentially Pulsed Chemical Vapour Deposition
Autoři
KRUMPOLEC, Richard (703 Slovensko, garant, domácí), Tomáš HOMOLA (703 Slovensko, domácí), David Campbell CAMERON (826 Velká Británie a Severní Irsko, domácí), Josef HUMLÍČEK (203 Česká republika, domácí), Ondřej CAHA (203 Česká republika, domácí), Karla KULDOVÁ (203 Česká republika), Raul ZAZPE (724 Španělsko), Jan PŘIKRYL (203 Česká republika) a Jan M. MACAK (203 Česká republika)
Vydání
Coatings, 2018, 2079-6412
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Švýcarsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 2.330
Kód RIV
RIV/00216224:14310/18:00101329
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000448545400041
Klíčová slova anglicky
vapour deposition; copper chloride; characterization; optical properties; XPS; crystal structure
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 23. 4. 2024 12:40, Mgr. Michal Petr
Anotace
V originále
Sequentially pulsed chemical vapour deposition was used to successfully deposit thin nanocrystalline films of copper(I) chloride using an atomic layer deposition system in order to investigate their application to UV optoelectronics. The films were deposited at 125 degrees C using [Bis(trimethylsilyl)acetylene](hexafluoroacetylacetonato)copper(I) as a Cu precursor and pyridine hydrochloride as a new Cl precursor. The films were analysed by XRD, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), SEM, photoluminescence, and spectroscopic reflectance. Capping layers of aluminium oxide were deposited in situ by ALD (atomic layer deposition) to avoid environmental degradation. The film adopted a polycrystalline zinc blende-structure. The main contaminants were found to be organic materials from the precursor. Photoluminescence showed the characteristic free and bound exciton emissions from CuCl and the characteristic exciton absorption peaks could also be detected by reflectance measurements.
Návaznosti
ED2.1.00/03.0086, projekt VaV |
| ||
GA17-02328S, projekt VaV |
| ||
LO1411, projekt VaV |
| ||
LQ1601, projekt VaV |
|