J 2019

Laser desorption ionization time-of-flight mass spectrometry of GexSe1-x chalcogenide glasses, their thin films, and Ge:Se mixtures

MAWALE, Ravi; Tomáš HALENKOVIČ; Marek BOUŠKA; Jan GUTWIRTH; Virginie NAZABAL et al.

Základní údaje

Originální název

Laser desorption ionization time-of-flight mass spectrometry of GexSe1-x chalcogenide glasses, their thin films, and Ge:Se mixtures

Autoři

MAWALE, Ravi; Tomáš HALENKOVIČ; Marek BOUŠKA; Jan GUTWIRTH; Virginie NAZABAL; Viktor TAKÁTS; Attila TSÍK; Josef HAVEL; Lubomír PROKEŠ a Petr NĚMEC

Vydání

Journal of Non-Crystalline Solids, Amsterdam, Elsevier Science, 2019, 0022-3093

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10406 Analytical chemistry

Stát vydavatele

Nizozemské království

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

Impakt faktor

Impact factor: 2.929

Označené pro přenos do RIV

Ano

Kód RIV

RIV/00216224:14310/19:00107304

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

EID Scopus

Klíčová slova anglicky

Chalcogenide glasses; Thin films; Laser desorption ionizationTime-of-Flight mass spectrometry; Clusters

Štítky

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 15. 2. 2023 10:18, Mgr. Marie Novosadová Šípková, DiS.

Anotace

V originále

The aim of this work is to generate and study the clusters formed as a result of the interaction of laser pulses with solid state materials such as chalcogenide glasses. The other target is to determine the stoichiometry of the clusters generated from studied chalcogenide glasses and their thin films in order to get the information about structural fragments presents in the plasma plume. The aims were achieved by exploiting laser desorption ionization (LDI) with quadrupole ion trap time-of-flight mass spectrometry (TOFMS) examination of the GexSe1-x chalcogenide glasses and thin films prepared by magnetron sputtering. The interaction of laser pulses with GexSe1-x chalcogenide glasses and their thin films produces many positively and negatively charged unary and binary (Gea, Seb, and GeaSeb) clusters. About cca 50 different clusters were identified for each glass sample. We assume that some species indicate local structure of the studied materials. However, other clusters are formed either by a fragmentation of original glass structure or by laser ablation synthesis. When using parafilm, many new, higher mass clusters were produced. The results were compared with LDI TOFMS analysis of Ge:Se elemental mixtures. Concluding, LDI TOFMS is useful technique not only for the generation and study of the clusters but also it gives partial structural information about glasses and other materials as well as information about processes proceeding in the plasma.

Návaznosti

ED2.1.00/03.0086, projekt VaV
Název: Regionální VaV centrum pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy
GA18-03823S, projekt VaV
Název: Pokročilé metody přípravy tenkých vrstev chalkogenidů a jejich modifikace
Investor: Grantová agentura ČR, Pokročilé metody přípravy tenkých vrstev chalkogenidů a jejich modifikace