Advanced transmission electron microscopy : imaging and
diffraction in nanoscience

Přeskočit na horní lištu Přeskočit na hlavičku Přeskočit na obsah Přeskočit na patičku

Publikace Přehled o publikaci

Přehled o publikaci

2017

Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience

ZUO, Jian Min a John C. H. SPENCE

Základní údaje

Originální název

Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience

Autoři

ZUO, Jian Min a John C. H. SPENCE

Vydání

New York, xxvi, 729, 2017

Nakladatel

Springer

Další údaje

Označené pro přenos do RIV

ISBN

9781493966059

Změněno: 2. 3. 2026 07:34, Záznam byl importován z knihovního systému.

ZUO, Jian Min a John C. H. SPENCE. Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience. New York: Springer, 2017, xxvi, 729. ISBN 9781493966059.

@article{,
   author = {Zuo, Jian Min and Spence, John C. H.},
   address = {New York},
   location = {New York},
   isbn = {9781493966059},
   publisher = {Springer},
   title = {Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience},
   year = {2017}
}

TY  - JOUR
AU  - Zuo, Jian Min - Spence, John C. H.
PY  - 2017
TI  - Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience
PB  - Springer
CY  - New York
SN  - 9781493966059
ER  -

ZUO, Jian Min a John C. H. SPENCE. \textit{Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience}. New York: Springer, 2017, xxvi, 729. ISBN~9781493966059.