Physical principles of electron microscopy : an introduction to
TEM, SEM, and AEM

Přeskočit na horní lištu Přeskočit na hlavičku Přeskočit na obsah Přeskočit na patičku

Publikace Přehled o publikaci

Přehled o publikaci

2016

Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM

EGERTON, R.

Základní údaje

Originální název

Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM

Autoři

EGERTON, R.

Vydání

Second edition. Switzerland, xi, 196, 2016

Nakladatel

Springer

Další údaje

Označené pro přenos do RIV

ISBN

9783319398761

Změněno: 2. 3. 2026 07:34, Záznam byl importován z knihovního systému.

EGERTON, R. Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM. Second edition. Switzerland: Springer, 2016, xi, 196. ISBN 9783319398761.

@article{,
   author = {Egerton, R.},
   address = {Switzerland},
   edition = {Second edition},
   location = {Switzerland},
   isbn = {9783319398761},
   publisher = {Springer},
   title = {Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM},
   year = {2016}
}

TY  - JOUR
AU  - Egerton, R.
PY  - 2016
TI  - Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM
PB  - Springer
CY  - Switzerland
SN  - 9783319398761
ER  -

EGERTON, R. \textit{Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM}. Second edition. Switzerland: Springer, 2016, xi, 196. ISBN~9783319398761.