D 2018

PREPARATION OF PPHMDSO THIN FILMS IN CAPACITIVELY COUPLED RF GLOW DISCHARGES UNDER DUSTY PLASMA CONDITIONS

HOMOLA, Vojtěch, Vilma BURŠÍKOVÁ, Lukáš KELAR, Štěpánka KELAROVÁ, Monika STUPAVSKÁ et. al.

Základní údaje

Originální název

PREPARATION OF PPHMDSO THIN FILMS IN CAPACITIVELY COUPLED RF GLOW DISCHARGES UNDER DUSTY PLASMA CONDITIONS

Autoři

HOMOLA, Vojtěch (203 Česká republika, domácí), Vilma BURŠÍKOVÁ (203 Česká republika, garant, domácí), Lukáš KELAR (203 Česká republika, domácí), Štěpánka KELAROVÁ (203 Česká republika, domácí), Monika STUPAVSKÁ (703 Slovensko, domácí) a Vratislav PEŘINA (203 Česká republika)

Vydání

SLEZSKA, 9TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOMATERIALS - RESEARCH & APPLICATION (NANOCON 2017), od s. 831-835, 5 s. 2018

Nakladatel

TANGER LTD

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Stať ve sborníku

Obor

21000 2.10 Nano-technology

Stát vydavatele

Česká republika

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Forma vydání

elektronická verze "online"

Odkazy

Kód RIV

RIV/00216224:14310/18:00108254

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

ISBN

978-80-87294-81-9

UT WoS

000452823300138

Klíčová slova anglicky

PECVD; hexamethyldisiloxane; oxygen; mechanical properties

Štítky

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 13. 4. 2020 19:07, Mgr. Marie Šípková, DiS.

Anotace

V originále

The deposition of organosilicone thin films from mixture of hexamethyldisiloxane (HMDSO) and oxygen by using capacitively coupled R.F. glow discharges under dusty plasma conditions was investigated. High resolution topography and mechanical property maps of the prepared films were acquired by using atomic force microscopy techniques. The chemical bond and composition of the deposited films were analyzed by Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The mechanical properties of the films were studied using quasistatic as well as dynamic nanoindentation tests and their surface free energies were evaluated by means of contact angle measuring technique using several testing liquids exhibiting various surface tensions. The thermal stability of the films was studied using thermal desorption spectroscopy. Neural network modelling was used to study the effect of plasma parameters on the hardness of ppHMDSO films.

Návaznosti

ED2.1.00/03.0086, projekt VaV
Název: Regionální VaV centrum pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy
GA15-17875S, projekt VaV
Název: Lokální mikrostrukturní změny vyvolané statickou a dynamickou indentací nanostrukturovaných a nanolaminovaných povlaků
Investor: Grantová agentura ČR, Lokální mikrostrukturní změny vyvolané statickou a dynamickou indentací nanostrukturovaných a nanolaminovaných povlaků
LO1411, projekt VaV
Název: Rozvoj centra pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy (Akronym: CEPLANT plus)
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Rozvoj centra pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy