SALAJKOVÁ, Zita, Markéta HOLÁ, David PROCHÁZKA, Jakub ONDRÁČEK, David PAVLIŇÁK, Ladislav ČELKO, Filip GREGAR, Petr ŠPERKA, Pavel POŘÍZKA, Viktor KANICKÝ, Alessandro DE GIACOMO a Jozef KAISER. Influence of sample surface topography on laser ablation process. Talanta. Amsterdam: Elsevier, 2021, roč. 222, January 2021, s. 1-9. ISSN 0039-9140. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.talanta.2020.121512.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Influence of sample surface topography on laser ablation process
Autoři SALAJKOVÁ, Zita (203 Česká republika), Markéta HOLÁ (203 Česká republika, garant, domácí), David PROCHÁZKA (203 Česká republika), Jakub ONDRÁČEK (203 Česká republika), David PAVLIŇÁK (203 Česká republika, domácí), Ladislav ČELKO (203 Česká republika), Filip GREGAR (203 Česká republika, domácí), Petr ŠPERKA, Pavel POŘÍZKA, Viktor KANICKÝ (203 Česká republika, domácí), Alessandro DE GIACOMO a Jozef KAISER.
Vydání Talanta, Amsterdam, Elsevier, 2021, 0039-9140.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10400 1.4 Chemical sciences
Stát vydavatele Nizozemské království
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 6.556
Kód RIV RIV/00216224:14310/21:00120799
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Doi http://dx.doi.org/10.1016/j.talanta.2020.121512
UT WoS 000589944000010
Klíčová slova anglicky Laser ablation; LA-ICP-MS; Surface analysis; Surface topography; Fractionation
Štítky rivok
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnila: Mgr. Marie Šípková, DiS., učo 437722. Změněno: 22. 2. 2023 15:30.
Anotace
In this work we discuss how sample surface topography can significantly influence the laser ablation (LA) process and, in turn, the analytical response of the LA Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometr y (LA-ICP-MS) method. Six different surface topographies were prepared on a certified aluminiu m alloy sample BAM 311 and SRM NIST 610 to investigate the phenomenon. A l l the samples were repetitively measured by LA-ICP-MS using a spot by spot analysis. The effect oflaserfluence in the range of 1-13 J/cm(2) was studied . For majority ofmeasured isotopes, the ICP-MS signal was amplified with roughening of the sample surface. A stronger effect was observed on the Al alloy sample, where the more than sixty-time enhancement was achieved in comparison to the polished surface of the sample. Since the effect of surface topography is different for each analyte, it can be stated that surface properties affect not only the ICP-MS response, but also elemental fractionation in LA . The presented results show that different surface topographies may lead to misleading data interpretation because even when applying ablation preshots, the signal of individual elements changes. The utmost care must be taken when preparing the surface for single shot analysis or chemical mapping. On the other hand, by roughening the sample surface, it is possible to significantly increase the sensitivity of the method for individual analytes and supress a matrix effect.
Návaznosti
LQ1601, projekt VaVNázev: CEITEC 2020 (Akronym: CEITEC2020)
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, CEITEC 2020
90110, velká výzkumná infrastrukturaNázev: CzechNanoLab
VytisknoutZobrazeno: 26. 4. 2024 23:53