2021
Ablation of binary As2S3, As2Se3, GeS2, GeSe2 and GeSe3 bulk glasses and thin films with a deep ultraviolet nanosecond laser
KUTÁLEK, P.; P. KNOTEK; A. ŠANDOVÁ; Tomáš VACULOVIČ; E. ČERNOŠKOVÁ et al.Základní údaje
Originální název
Ablation of binary As2S3, As2Se3, GeS2, GeSe2 and GeSe3 bulk glasses and thin films with a deep ultraviolet nanosecond laser
Autoři
KUTÁLEK, P.; P. KNOTEK; A. ŠANDOVÁ; Tomáš VACULOVIČ; E. ČERNOŠKOVÁ a L. TICHÝ
Vydání
Applied Surface Science, Elsevier Science BV, 2021, 0169-4332
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Nizozemské království
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 7.392
Označené pro přenos do RIV
Ano
Kód RIV
RIV/00216224:14310/21:00121664
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
EID Scopus
Klíčová slova anglicky
Chalcogenides; Bulk glasses; Thin films; Laser ablation; Laser direct writing
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 28. 5. 2021 12:03, Mgr. Marie Novosadová Šípková, DiS.
Anotace
V originále
Binary (As2S3, As2Se3, GeS2 GeSe2 and GeSe3) bulk glasses and corresponding thin films were prepared and illuminated with deep ultraviolet nanosecond (DUV ns) pulsed laser operating at 213 nm. The illumination of samples led to the reproducible crater?s formation. Subsequently, the influence of the pulses number and laser fluence on their creation was studied. The ablation rate and laser-induced ablation threshold (LIAT) were determined based on these experiments. The craters with the help of digital holographic microscopy (DHM), atomic force microscopy (AFM), phase shift imaging mode of AFM, Raman scattering, scanning electron microscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy were characterized. As an application possibility, the formation of the diffraction gratings by laser direct writing is presented and their functionality is demonstrated.