J 2021

Ablation of binary As2S3, As2Se3, GeS2, GeSe2 and GeSe3 bulk glasses and thin films with a deep ultraviolet nanosecond laser

KUTÁLEK, P.; P. KNOTEK; A. ŠANDOVÁ; Tomáš VACULOVIČ; E. ČERNOŠKOVÁ et al.

Základní údaje

Originální název

Ablation of binary As2S3, As2Se3, GeS2, GeSe2 and GeSe3 bulk glasses and thin films with a deep ultraviolet nanosecond laser

Autoři

KUTÁLEK, P.; P. KNOTEK; A. ŠANDOVÁ; Tomáš VACULOVIČ; E. ČERNOŠKOVÁ a L. TICHÝ

Vydání

Applied Surface Science, Elsevier Science BV, 2021, 0169-4332

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Nizozemské království

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

Impakt faktor

Impact factor: 7.392

Označené pro přenos do RIV

Ano

Kód RIV

RIV/00216224:14310/21:00121664

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

EID Scopus

Klíčová slova anglicky

Chalcogenides; Bulk glasses; Thin films; Laser ablation; Laser direct writing

Štítky

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 28. 5. 2021 12:03, Mgr. Marie Novosadová Šípková, DiS.

Anotace

V originále

Binary (As2S3, As2Se3, GeS2 GeSe2 and GeSe3) bulk glasses and corresponding thin films were prepared and illuminated with deep ultraviolet nanosecond (DUV ns) pulsed laser operating at 213 nm. The illumination of samples led to the reproducible crater?s formation. Subsequently, the influence of the pulses number and laser fluence on their creation was studied. The ablation rate and laser-induced ablation threshold (LIAT) were determined based on these experiments. The craters with the help of digital holographic microscopy (DHM), atomic force microscopy (AFM), phase shift imaging mode of AFM, Raman scattering, scanning electron microscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy were characterized. As an application possibility, the formation of the diffraction gratings by laser direct writing is presented and their functionality is demonstrated.