Quantitative X-Ray diffractometry

Přeskočit na horní lištu Přeskočit na hlavičku Přeskočit na obsah Přeskočit na patičku

Publikace Přehled o publikaci

Přehled o publikaci

1995

Quantitative X-Ray diffractometry

ZEVIN, Lev S. a Giora KIMMEL

Základní údaje

Originální název

Quantitative X-Ray diffractometry

Autoři

ZEVIN, Lev S. a Giora KIMMEL
Edited by Inez Mureinik.

Vydání

New York, xvii, 372, 1995

Nakladatel

Springer-Verlag

Další údaje

Označené pro přenos do RIV

ISBN

0387945415

Změněno: 2. 3. 2026 05:44, Záznam byl importován z knihovního systému.

ZEVIN, Lev S. a Giora KIMMEL. Quantitative X-Ray diffractometry. Edited by Inez Mureinik. New York: Springer-Verlag, 1995, xvii, 372. ISBN 0387945415.

@article{,
   author = {Zevin, Lev S. and Kimmel, Giora},
   address = {New York},
   location = {New York},
   isbn = {0387945415},
   publisher = {Springer-Verlag},
   title = {Quantitative X-Ray diffractometry},
   year = {1995}
}

TY  - JOUR
AU  - Zevin, Lev S. - Kimmel, Giora
PY  - 1995
TI  - Quantitative X-Ray diffractometry
PB  - Springer-Verlag
CY  - New York
SN  - 0387945415
ER  -

ZEVIN, Lev S. a Giora KIMMEL. \textit{Quantitative X-Ray diffractometry}. Edited by Inez Mureinik. New York: Springer-Verlag, 1995, xvii, 372. ISBN~0387945415.