| ZEVIN, Lev S. a Giora KIMMEL. Quantitative X-Ray diffractometry. Edited by Inez Mureinik. New York: Springer-Verlag, 1995, xvii, 372. ISBN 0387945415. |
|
Další formáty:
BibTeX
LaTeX
RIS
|
| Základní údaje | |
|---|---|
| Originální název | Quantitative X-Ray diffractometry |
| Autoři | ZEVIN, Lev S. a Giora KIMMEL. Edited by Inez Mureinik. |
| Vydání | New York, xvii, 372, 1995. |
| Nakladatel | Springer-Verlag |
| Další údaje | |
|---|---|
| ISBN | 0387945415 |
| Změnil | Záznam byl importován z knihovního systému. Změněno: 8. 8. 2022 13:09. |
VytisknoutZobrazeno: 5. 6. 2024 03:32