1997
Microhardness measurements of the thin layers of the amorphous hydrogenated silicon and its alloys
ŠŤASTNÝ, Jiří, Petr SLÁDEK a Pavel SŤAHELZákladní údaje
Originální název
Microhardness measurements of the thin layers of the amorphous hydrogenated silicon and its alloys
Autoři
ŠŤASTNÝ, Jiří, Petr SLÁDEK a Pavel SŤAHEL
Vydání
Praha, Proceedings of Contributed Papers, konference WDS 97 Praha, s. 388-388, 1997
Nakladatel
UK, Matematicko-fyzikální fakulta
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Kapitola resp. kapitoly v odborné knize
Obor
10302 Condensed matter physics
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Organizační jednotka
Pedagogická fakulta
Změněno: 28. 5. 1999 09:38, doc. RNDr. Petr Sládek, CSc.