C 1997

Microhardness measurements of the thin layers of the amorphous hydrogenated silicon and its alloys

ŠŤASTNÝ, Jiří, Petr SLÁDEK a Pavel SŤAHEL

Základní údaje

Originální název

Microhardness measurements of the thin layers of the amorphous hydrogenated silicon and its alloys

Autoři

ŠŤASTNÝ, Jiří, Petr SLÁDEK a Pavel SŤAHEL

Vydání

Praha, Proceedings of Contributed Papers, konference WDS 97 Praha, s. 388-388, 1997

Nakladatel

UK, Matematicko-fyzikální fakulta

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Kapitola resp. kapitoly v odborné knize

Obor

10302 Condensed matter physics

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Organizační jednotka

Pedagogická fakulta
Změněno: 28. 5. 1999 09:38, doc. RNDr. Petr Sládek, CSc.