Interpretation of infrared transmittance spectra of SiO 2 thin films

KUČÍRKOVÁ, Assja a Karel NAVRÁTIL. Interpretation of infrared transmittance spectra of SiO 2 thin films. Applied Spectroscopy. USA: Society Appl. Spectroscopy, 1994, roč. 48(1994), č. 1, s. 113-120. ISSN 0003-7028.

Základní údaje

Originální název

Interpretation of infrared transmittance spectra of SiO 2 thin films

Autoři

KUČÍRKOVÁ, Assja a Karel NAVRÁTIL

Vydání

Applied Spectroscopy, USA, Society Appl. Spectroscopy, 1994, 0003-7028

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Kód RIV

RIV/00216224:14310/94:00000288

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

---

Návaznosti

MSM 143100002, záměr

Název: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur