High Resolution x-ray diffractometry of ZnTe layers at elevated temperatures.

BOCHNÍČEK, Zdeněk; Václav HOLÝ; G. WOLF; H. STANZL a J. GEBHARDT. High Resolution x-ray diffractometry of ZnTe layers at elevated temperatures. Journal of Applied Physics. 1995, roč. 78, č. 2, s. 862-867. ISSN 0021-8979.

Základní údaje

Originální název

High Resolution x-ray diffractometry of ZnTe layers at elevated temperatures.

Autoři

BOCHNÍČEK, Zdeněk; Václav HOLÝ; G. WOLF; H. STANZL a J. GEBHARDT

Vydání

Journal of Applied Physics, 1995, 0021-8979

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Označené pro přenos do RIV

Ano

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta