J 1995

X-ray diffraction on Fibonacci superlattices

MIKULÍK, Petr, Václav HOLÝ a Josef KUBĚNA

Základní údaje

Originální název

X-ray diffraction on Fibonacci superlattices

Autoři

MIKULÍK, Petr (203 Česká republika, garant), Václav HOLÝ (203 Česká republika) a Josef KUBĚNA (203 Česká republika)

Vydání

Acta Crystallographica A, 1995

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Velká Británie a Severní Irsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

Kód RIV

RIV/00216224:14310/95:00000346

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

Klíčová slova anglicky

x-ray diffraction; quasicrystals; fibonacci; superlattices

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 12. 2. 2007 18:40, doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.

Anotace

V originále

The exact diffraction curve of the Fibonacci superlattice is calculated using the semikinematical approximation of dynamical X-ray diffraction. The properties of the discrete Fourier transform of quasiperiodically arranged layers are employed to get explicit approximate formula for the diffracted intensity and for the angular positions of peaks. The exact and approximate curves were compared by a numerical simulation and a good agreement was found. The measurement of diffraction curve was performed on the generalized Fibonacci superlattice built by stacked Fibonacci generations. This superlattice belongs to the same class of local isomorphism as the Fibonacci superlattice if both are infinitely thick. The explicit approximate formulae enabled to fit the structural parameters of the superlattice even in the low resolution experimental setup when the fit of the whole measured diffraction curve was not possible.

Česky

The exact diffraction curve of the Fibonacci superlattice is calculated using the semikinematical approximation of dynamical X-ray diffraction. The properties of the discrete Fourier transform of quasiperiodically arranged layers are employed to get explicit approximate formula for the diffracted intensity and for the angular positions of peaks. The exact and approximate curves were compared by a numerical simulation and a good agreement was found. The measurement of diffraction curve was performed on the generalized Fibonacci superlattice built by stacked Fibonacci generations. This superlattice belongs to the same class of local isomorphism as the Fibonacci superlattice if both are infinitely thick. The explicit approximate formulae enabled to fit the structural parameters of the superlattice even in the low resolution experimental setup when the fit of the whole measured diffraction curve was not possible.

Návaznosti

MSM 143100002, záměr
Název: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur