CHLÁDEK, M. a Václav HOLÝ. Quantitative Study of Interface Roughness Replication in Multilayers Using X-ray Reflectivity and Transmission Electron Microscopy. Appl. Phys. Lett. USA: Institute of Physics, 1996, roč. 69(19960, č. 9, s. 1318-1320. ISSN 0003-6951.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Quantitative Study of Interface Roughness Replication in Multilayers Using X-ray Reflectivity and Transmission Electron Microscopy
Autoři CHLÁDEK, M. a Václav HOLÝ.
Vydání Appl. Phys. Lett. USA, Institute of Physics, 1996, 0003-6951.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10301 Atomic, molecular and chemical physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/96:00000418
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS A1996VD63200048
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 20. 3. 2000 07:12.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 30. 6. 2024 19:34