JERGEL, M. a Václav HOLÝ. Interface roughness correlation in tungsten/silicon multilayers. J. Mag. Materials. 1996, roč. 1996, č. 156, s. 117-118.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Interface roughness correlation in tungsten/silicon multilayers
Autoři JERGEL, M. a Václav HOLÝ.
Vydání J. Mag. Materials, 1996.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/96:00000420
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS A1996UV35800049
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 20. 3. 2000 07:00.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 30. 6. 2024 19:35