OHLÍDAL, Ivan, Daniel FRANTA a Jaroslav HORA. Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces Covered by Layers. Online. In ECASIA 95 - 6th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis. Chichester, England, UK: John Willey & Sons, 1996. s. 823-826. ISBN 0-471-95899-9. [citováno 2024-04-23]
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces Covered by Layers
Autoři OHLÍDAL, Ivan, Daniel FRANTA a Jaroslav HORA
Vydání Chichester, England, UK, ECASIA 95 - 6th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, od s. 823-826, 4 s. 1996.
Nakladatel John Willey & Sons
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Stať ve sborníku
Obor 10301 Atomic, molecular and chemical physics
Stát vydavatele Velká Británie a Severní Irsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
ISBN 0-471-95899-9
Změnil Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 19. 12. 2003 19:16.
Anotace
In this paper it will be shown that formulae for the ellipsometric parameters derived using the Rayleigh-Rice theory (RRT) can be used to determine the root-mean-square (rms) values of the heights sigma and the values of the autocorrelation lenghts T.
VytisknoutZobrazeno: 23. 4. 2024 20:25