High resolution X-ray diffraction and reflectivity studies f vertical and lateral ordering in multiple self-organized InGaAs quantum dots

DARHUBER, A.A. a Václav HOLÝ. High resolution X-ray diffraction and reflectivity studies f vertical and lateral ordering in multiple self-organized InGaAs quantum dots. Jpn.J.Appl.Phys. 1997, roč. 36(1997), 6B, s. 4084-4087.

Základní údaje

Originální název

High resolution X-ray diffraction and reflectivity studies f vertical and lateral ordering in multiple self-organized InGaAs quantum dots

Autoři

DARHUBER, A.A. a Václav HOLÝ

Vydání

Jpn.J.Appl.Phys. 1997

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Japonsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Kód RIV

RIV/00216224:14310/97:00000544

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

---

Návaznosti

MSM 143100002, záměr

Název: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur