HOLÝ, Václav, A.A. DARHUBER, J. STANGL, G. BAUER, J. NUETZEL a G. ABSTREITER. Oblique roughness replication in strained SiGe/Si multilayers. Physical Review B. USA: The American Physical Society, 1998, (57)1998, č. 19, s. 12435-12442. ISSN 0163-1829.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Oblique roughness replication in strained SiGe/Si multilayers
Autoři HOLÝ, Václav, A.A. DARHUBER, J. STANGL, G. BAUER, J. NUETZEL a G. ABSTREITER.
Vydání Physical Review B, USA, The American Physical Society, 1998, 0163-1829.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 2.842
Kód RIV RIV/00216224:14310/98:00000758
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000073761500094
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 20. 3. 2000 06:49.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 30. 4. 2024 21:59