OHLÍDAL, Miloslav, Marek UNČOVSKÝ, Ivan OHLÍDAL a Daniel FRANTA. Determination of the basic parameters characterizing the roughness of metal surfaces by laser light scattering. Journal of modern optics. Londýn: Taylor & Francis Ltd., roč. 46, č. 2, s. 279-293. ISSN 0950-0340. 1999.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Determination of the basic parameters characterizing the roughness of metal surfaces by laser light scattering
Autoři OHLÍDAL, Miloslav (garant), Marek UNČOVSKÝ, Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika) a Daniel FRANTA (203 Česká republika).
Vydání Journal of modern optics, Londýn, Taylor & Francis Ltd. 1999, 0950-0340.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Velká Británie a Severní Irsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 1.475
Kód RIV RIV/00216224:14310/99:00003214
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000078435800009
Změnil Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 22. 12. 2003 00:12.
Anotace
A method of determination of the basic morphology parameters of rough metal surfaces with periodic and random components of surface roughness by means of laser light scattering is presented. The method is based on interpreting the angular distribution of the laser light intensity scattered from such surfaces. The theory of the method is based on the scalar theory of diffraction and basic theorems of data processing. The new, more general way of interpreting experimental data is specified. It can also be used for the analysis of samples with quasiperiodic and random components of surface roughness; this is the case when standard measurement by means of stylus profilometer can give incorrect results.
Návaznosti
GA202/98/0988, projekt VaVNázev: Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
Investor: Grantová agentura ČR, Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
VytisknoutZobrazeno: 20. 4. 2024 00:20