J 1999

Optical properties of thin films of poly(methyl-phenylsilylene)

NAVRÁTIL, Karel; Jan ŠIK; Josef HUMLÍČEK a S. NEŠPŮREK

Základní údaje

Originální název

Optical properties of thin films of poly(methyl-phenylsilylene)

Autoři

NAVRÁTIL, Karel; Jan ŠIK; Josef HUMLÍČEK a S. NEŠPŮREK

Vydání

Optical Materials, Amsterdam, Elsevier, 1999, 0925-3467

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Nizozemské království

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 1.293

Označené pro přenos do RIV

Ano

Kód RIV

RIV/00216224:14310/99:00002116

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

Změněno: 26. 2. 2001 13:29, prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.

Anotace

V originále

We report the results of optical studies of thin films of poly(methyl-phenylsilylene) prepared on single-crystalline silicon and fused quartz substrates using the casting and spin coating technology. From near-normal incidence reflectance, we have determined the spectral dependence of the complex dielectric function and the complex refractive index in the energy interval from 1 to 7 eV.

Návaznosti

MSM 143100002, záměr
Název: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur