1999
Diffuse x-ray reflectivity of strain-compensated Si/SiGe/SiC multilayers
GRIM, Jan, Václav HOLÝ, Josef KUBĚNA, J. STANGL, A.A. DARHUBER et. al.Základní údaje
Originální název
Diffuse x-ray reflectivity of strain-compensated Si/SiGe/SiC multilayers
Autoři
GRIM, Jan, Václav HOLÝ, Josef KUBĚNA, J. STANGL, A.A. DARHUBER, S. ZERLAUTH, F. SCHÄFFLER a G. BAUER
Vydání
Semicond. Sci. Technol. Velká Britanie, IOP Publishing Ltd, 1999, 0268-1242
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Velká Británie a Severní Irsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 1.223
Kód RIV
RIV/00216224:14310/99:00000038
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000080730000043
Změněno: 18. 4. 2000 10:13, prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
Návaznosti
| MSM 143100002, záměr |
|