J 2022

The wide range optical spectrum characterization of the silicon and oxygen doped diamond like carbon inhomogeneous thin films

ČERMÁK, Martin, Štěpánka KELAROVÁ, Jana JURMANOVÁ, Pavlína KÜHROVÁ, Vilma BURŠÍKOVÁ et. al.

Základní údaje

Originální název

The wide range optical spectrum characterization of the silicon and oxygen doped diamond like carbon inhomogeneous thin films

Autoři

ČERMÁK, Martin (203 Česká republika, garant, domácí), Štěpánka KELAROVÁ (203 Česká republika, domácí), Jana JURMANOVÁ (203 Česká republika, domácí), Pavlína KÜHROVÁ (203 Česká republika, domácí) a Vilma BURŠÍKOVÁ (203 Česká republika, domácí)

Vydání

Diamond and Related Materials, Elsevier Ltd, 2022, 0925-9635

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

20506 Coating and films

Stát vydavatele

Švýcarsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

Impakt faktor

Impact factor: 4.100

Kód RIV

RIV/00216224:14310/22:00126854

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000838984700007

Klíčová slova anglicky

Ellipsometry; Spectrophotometry; Diamond like carbon; Inhomogeneous thin film; Scanning electron microscope

Štítky

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 27. 2. 2024 13:22, Mgr. Marie Šípková, DiS.

Anotace

V originále

Optical characterization from the FIR to the V-UV region of silicon and oxygen doped carbon films deposited on a silicon substrates is performed. In this work, the deposited films are considered as optically inhomogeneous, i.e., the optical constants depend on the depth in the films. According to the optical analysis, there is a transition layers under the deposited films with optical constants similar to amorphous silicon with hydrogen, carbon and oxygen additions. The film thicknesses obtained from optical characterization are compared with those obtained from scanning electron microscope images. From electron microscope images it is evident that the film properties are truly depth-dependent. The optical constants of the films and transition layers as functions of photon energy over the studied spectrum are determined. The static conductivity of the films is determined from measurements in FIR region. From spectral analysis in the mid-infrared region, resonance peaks were detected and the chemical composition of the film and transition layers is presented. The chemical composition is compared with the results of the EDX.

Návaznosti

GA19-15240S, projekt VaV
Název: Multifunkční nanokompozitní polymerní tenké vrstvy s řízenými povrchovými a mechanickými vlastnostmi připravené v RF prachovém plazmatu
Investor: Grantová agentura ČR, Multifunkční nanokompozitní polymerní tenké vrstvy s řízenými povrchovými a mechanickými vlastnostmi připravené v RF prachovém plazmatu
90097, velká výzkumná infrastruktura
Název: CEPLANT